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  • KLA Alpha-Step® D-600探針式輪廓儀
    KLA Alpha-Step® D-600探針式輪廓儀

    半導體薄膜生長表面檢測KLA Alpha-Step® D-600探針式輪廓儀能夠測量從幾納米到 1200微米的2D和3D臺階高度。D-600 還支持2D和3D的粗糙度測量,以及用于研發和生產環節的2D翹曲度和應力測量。D-600 包含一個帶有200 毫米樣品載臺的電動樣品臺和具有增強影像控制的高級光學器件。

    更新時間:2025-03-17型號:瀏覽量:486
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