KLA Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀

簡要描述：KLA Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀通過同時測量反射和透射光譜，實現(xiàn)真空鍍膜的快速、精確分析。該設(shè)備價格合理，具備分析、FWHM確定及顏色分析功能，并可通過選配模塊擴展其厚度和折射率測量能力。配備FILMeasure 8軟件和多種參考材料，支持多種薄膜類型，覆蓋從紫外到近紅外的寬波長范圍，提供高效的測量結(jié)果輸出及全面的技術(shù)支持服務(wù)。

產(chǎn)品型號：

所屬分類：薄膜厚度測量儀

更新時間：2025-03-10

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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詳情介紹

同時測量反射和透射

以真空鍍膜為設(shè)計目標，KLA Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀只要單擊鼠標即可獲得反射和透射光譜。只需傳統(tǒng)價格的一小部分，用戶就能進行分析、確定 FWHM 并進行顏色分析。

可選的厚度和折射率模塊讓您能夠充分利用KLA Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀的分析能力。測量結(jié)果能被快速地導出和打印。

包含的內(nèi)容：

集成光譜儀/光源裝置
FILMeasure 8 軟件
BK7 參考材料
Si 參考材料
防反光板
鏡頭紙

型號規(guī)格

型號	厚度范圍	波長范圍
F10-RT	15nm-70μm	380-1050nm
F10-RT-UV	1nm-40μm	190-1100nm
F10-RT-UVX	1nm-150μm	190-1700nm
F10-RT-NIR	100nm-150μm	950-1700nm
F10-RT-EXR	15nm-150μm	380-1700nm